快速檢漏工裝系統(tǒng)二
1、吸槍法
被檢件充入高于大氣壓的探索氣氦,檢漏儀的檢漏口連接稱之為吸槍的氣體采集器。當(dāng)試件有漏時(shí),泄漏的氦氣被吸槍吸入檢漏儀,而被檢測。吸槍在試件表面移動(dòng),同時(shí)注視檢漏儀漏率指示的變化,一旦泄漏增加,吸槍所指位置即漏點(diǎn)所在。因此吸槍法也是能確定漏孔的檢漏方法。
2、 鐘罩法——測總漏率
將被檢件與儀器檢漏口聯(lián)接抽真空,在被檢件外面罩以充滿氦氣的容器,如被檢件有漏孔,氦氣便由漏孔進(jìn)入被檢件,終達(dá)到質(zhì)譜管被檢測。所測漏率是被檢件的總漏率,不能確定有幾個(gè)泄漏點(diǎn)和每個(gè)漏點(diǎn)的準(zhǔn)確位置。
快速檢漏工裝系統(tǒng)二
3、 背壓法——測總漏率
電子元器件進(jìn)行氣密性檢測時(shí)常用背壓法。檢漏前用加壓容器向被檢件壓入氦氣(由壓力和時(shí)間控制壓入的量) ,然后取出被檢件,吹去表面吸附氦后放入檢漏罐中,再將檢漏罐聯(lián)接到檢漏儀的檢漏口上,對(duì)檢漏罐抽真空,實(shí)施檢漏。若器件有漏,則通過該漏孔壓人的氦氣又釋放出來進(jìn)入檢漏罐,終到達(dá)質(zhì)譜管。用這種方法測得的漏率也是總漏率。
4、 輔助真空系統(tǒng)
對(duì)子漏氣速率和放氣速率較大或者體積較大的被檢件,若直接與檢漏儀相連,檢漏儀的真空度可能抽不上去,使檢漏儀無法工作。此種情況須加接輔助真空系統(tǒng),提高對(duì)被檢件的抽速。簡單的輔助真空系統(tǒng)只需一個(gè)機(jī)械泵和兩個(gè)閥門 ,復(fù)雜的系統(tǒng)可由前級(jí)泵、次級(jí)泵、閥門、真空規(guī)及標(biāo)準(zhǔn)漏孔等組成。次級(jí)泵可用擴(kuò)散系或羅茨泵,前級(jí)系好用氣鎮(zhèn)式機(jī)械泵。
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